Applied logistic  regression. 2nd ed.

Hosmer, David W.; Lemeshow, Stanley

dc.contributor.author	Hosmer, David W.
dc.contributor.author	Lemeshow, Stanley
dc.date.accessioned	2023-09-27T16:13:13Z
dc.date.available	2023-09-27T16:13:13Z
dc.date.issued	2000
dc.identifier.isbn	0-471-35632-8
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/123456789/16986
dc.description	"A Wiley-Interscience publication." Includes bibliographical references (p. 352-365) and index.	es
dc.language.iso	en	es
dc.publisher	John Wiley	es
dc.relation.ispartofseries	Wiley series in probability and statistics;
dc.rights	Este documento es reproducido por la biblioteca universitaria de la UCLV bajo el amparo de la legislación cubana vigente sobre derecho de autor. Los usuarios podrán utilizar este material bajo la siguiente licencia: Reconociendo a los autores de la obra mediante las citas y referencias bibliográficas correspondientes, utilizar solo para fines No Comerciales y No realizar reproducciones u obras derivadas.	es
dc.subject	Análisis de Regresión	es
dc.title	Applied logistic regression. 2nd ed.	es
dc.type	Book	es