Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 3rd ed.

Fultz, Brent; Howe, James M.

dc.contributor.author	Fultz, Brent
dc.contributor.author	Howe, James M.
dc.date.accessioned	2020-02-11T17:32:00Z
dc.date.available	2020-02-11T17:32:00Z
dc.date.issued	2008
dc.identifier.isbn	978-3-540-73885-5
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/123456789/14100
dc.description.abstract	This third edition of the highly successful and acclaimed work has been fully updated and revised to cover important technical developments. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials.	es
dc.language.iso	en	es
dc.publisher	Springer	es
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dc.subject	Rayos X	es
dc.subject	Difracción	es
dc.subject	Microscopio de Transmisión por Electrones	es
dc.subject	X-Rays	es
dc.subject	Diffraction	es
dc.subject	Transmission Electron Microscopy	es
dc.title	Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 3rd ed.	es
dc.type	Book	es