| dc.contributor.author | van de Kamp, Wim | |
| dc.date.accessioned | 2019-03-04T16:29:17Z | |
| dc.date.available | 2019-03-04T16:29:17Z | |
| dc.date.issued | 2005 | |
| dc.identifier.isbn | No Posee | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/10795 | |
| dc.language.iso | es | es |
| dc.publisher | Endress-Hauser | es |
| dc.rights | Este documento es reproducido por la biblioteca universitaria de la UCLV bajo el amparo de la legislación cubana vigente sobre derecho de autor. Los usuarios podrán utilizar este material bajo la siguiente licencia: Reconociendo a los autores de la obra mediante las citas y referencias bibliográficas correspondientes, utilizar solo para fines No Comerciales y No realizar reproducciones u obras derivadas. | es |
| dc.subject | Detección de Niveles por Conductividad | es |
| dc.subject | Mediciones | es |
| dc.subject | Métodos Electromecánicos | es |
| dc.title | Teoría y práctica de medición de niveles | es |
| dc.type | Book | es |